| 产品图片 | 产品名称/型号 | 产品描述 |
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X射线表面应力分析仪技术参数： 1.测角仪：多种准直器可更换，直径从1到5，包括特殊小直径0.5和0.8甚至更小。 -
性能优质便携式应力分析仪利用电脑显示的曲线数据，便于工艺上确定材料的烧成制度及玻璃的转变与受控结晶等工艺参数。广泛应用在高等院校，科研单位和生产厂的材料分析检测。 -
优质表面残余应力测定仪主要对各种多晶体材料进行残余应力和残余奥氏体分析和研究，它以计算机为中央微处理机，采用高精度探测技术、数据准确和可靠。 -
北京华欧供应优质残余应力测定仪根据的是布拉格定律，使用X射线来测量残余应力和残余奥氏体。 -
X射线残余应力测定分析仪器准直器直径从Φ1到Φ5，包括特殊小直径Φ0.5和Φ0.8甚至更小；测距，行程误差小于0.003mm；对无应力铁粉测量误差可控制到±6.9MPa以内；
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X射线表面残余应力分析检测仪既可在实验室使用，也可在户外使用，携带方便，一个人就可完成。只需要一个电源，从安装到开始测量只需10分钟左右。
