X射线残余应力检测分析仪器
- 更新日期:2024-09-23
- 访问次数:1772
X射线残余应力检测分析仪器使用X射线衍射法来测量残余应力和残余奥氏体。这是一种传统的方法,是测量铁素体钢Z理想的X射线衍射法,也适用于所有晶体材料(包括陶瓷)。
X射线残余应力检测分析仪器适应于齿轮、轴承、曲轴、凸轮轴、压力容器管道及零部件在热处理、机加工、焊接、喷丸、滚压等过程中产生的残余应力。
工作原理
X射线照射铁素体和奥氏体时都会产生衍射,其衍射峰的强度与各相体积分数成正比,因此通过各衍射峰的强度对比可以分析计算出残余奥氏体的百分含量。采用四峰法自动测量残余奥氏体含量,精度优于1%。相比较于传统的金相法等手段,四峰法具有无损、快速和精确等特性。
X射线残余应力检测分析仪器特点
1)适用于残余应力的系统分析。
2)采用*的技术,可以使其在范围内保持优良的线性精度。仪器稳定性好,重现性好,尤其适合现场快速分析。
3)采用计算机数据处理系统,更适用于对多个样品的联测。
5)界面美观,功能强大,操作简单方便。
6)测角仪采用了叠步倾转设计,侧头下部结构简单,在测量管材内壁或机轴凸角等复杂部位时十分方便。
7)残余应力快速分析仪软件更丰富、抗干扰能力更强,测试方法及可靠性更优。
残余应力和奥氏体同时测量
X射线源不需要水冷,方便安装和移动使用
系统超高灵敏度,超高测量速度和可靠性
适合测量的材料范围广
配合电解抛光仪可测量不同深度的残余应力
便携方便,可在实验室和野外现场测量
Stresstech Oy总部设在芬兰,是生产各类应力分析仪和磨削烧伤检测仪生产厂。在美国和德国设有工厂,自成立以来,就服务于各地的客户,提供无损检测的解决方案和长期的技术支持服务。