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坦佩雷大学的研究人员亲自检验Xstress DR45 残余应力分析仪
更新时间:2023-02-09   点击次数:1166次

Stressstech公司与大学和研究机构合作,收集关于如何进一步改善行业产品的信息。以下为坦佩雷大学的研究人员对Xstress DR45进行了小光斑残余应力测量。

2022年12月,Stressstech公司邀请坦佩雷大学的研究人员Suvi Santa-aho和Tapio Jokinen测试了Xstress DR45 残余应力分析仪,对具有挑战性尺寸的零件进行残余应力测量。该部件需要使用非常小的测量光斑尺寸。该实验室有一台早期的Xstress G2R残余应力分析仪,但对于有些特殊形状的样品无法测量。


Suvi Santa-aho and Tapio Jokinen with Xstress Profile

来自坦佩雷大学的Suvi Santa-aho和Tapio Jokinen

由于测量的区域如此之小,需要特殊的小准直仪。端部越小,曝光时间越长才能达到良好的强度。而在坦佩雷没有那么小的定制准直仪可用,而且即便是有,测量时间也可能会很长。而使用了Xstress DR45残余应力分析仪测量后,结果很惊人,又快又准。

Suvi Santa-aho and Tapio Jokinen testing Xstress Profile

使用Xstress XY定位样品

Suvi Santa-aho和Tapio Jokinen说到:我们非常感激测量成功。这款定制的小准直仪端部工作良好,非常适合我们想要测量的小细节。这些结果为m.c.的工作结果提供了大量的研究成果,有助于我们更好地评估加工参数。而且,测量软件(Xstress Studio)与旧的XTronic软件有所不同,但很容易学习。我们接受了软件方面的培训,过了一段时间,我们就可以自己轻松地进行测量了。结果文件以pdf格式存储,我们可以在其中获取相关结果并进行解释。我发现Xstress DR45的操作真的很高效;随着测量时间的缩短,与旧设备相比,我们可以在相同时间内分析更多的样品。

Xstress DR45的技术水平在坦佩雷大学获得了良好的反馈,这无疑更加大了Stresstech公司的信心,Xstress DR45的检测能力和工作效率是值得选择和参考的。

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