本文用x射线衍射法测定了镁合金样品的残余应力。

问题

当材料晶粒尺寸较大或纹理较多时，传统的XRD残余应力测量被推到了极限。通过使用耗时的倾斜和旋转振荡来获得给定倾斜角度的更平均的峰值数据集，可以改善结果。然而，客户需要一个更有效的解决方案来测量镁合金样品上的残余应力，具有挑战性的衍射峰结果。

测试方法

测量使用了Xstress G3残余应力分析仪和带有双探测器(Hamamatsu和Mythen)的Xstress DR45残余应力分析仪进行，DR45具有2D面探测器。在整个测量过程中使用了3毫米准直仪。在一维探测器测量中，同时使用了倾斜振荡和旋转振荡。没有它们，就无法获得衍射数据，而二维测量只需要倾斜振荡。

无振荡的一维探测器峰值数据。

图1。无振荡的一维探测器峰值数据。

下面是使用DR45测量镁样品。

图2。用DR45测定镁样品。

结果

2D探测器的原始数据显示Debye-Scherrer衍射环中有明显的不连续(图3)，这解释了为什么在1D探测器测量中需要使用旋转和倾斜振荡。二维探测器数据由沿衍射环的强度积分计算，只需要倾斜振荡就可以获得足够的数据。

来自Xstress DR45中二维探测器的探测器数据。

图3。DR45中二维探测器的探测器数据。

1D探测器的总测量时间为1h 49min。使用Mythen探测器，曝光时间可以从150s减少到30s，但由于所有必要的振荡运动，总测量时间只减少了35%。使用2D探测器的DR45在3分钟内完成了测量(表1)。